磁粉探傷検査は、キズ部分から発生する「漏洩磁束」現象を利用しています。試験体を磁化させることで、表面に散布した強磁性体の磁粉（または蛍光磁粉）がキズ部分に吸着。これを観察することでキズの検出が可能になります。
日本電磁測器株式会社（NDK）では、「簡単」「確実」「安価」という３つのメリットを持つ磁粉探傷関連製品ラインナップをご用意して「安全と、品質管理における安心」をご提供いたします。
磁粉探傷装置
磁粉探傷を行う際に検査対象を磁化する装置
ブラックライト
磁粉探傷検査で使用する紫外線探傷灯
