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製品・技術情報

非破壊検査装置【磁粉探傷検査】磁粉探傷検査(MT)とは

磁粉探傷検査は、キズ部分から発生する「漏洩磁束」現象を利用しています。試験体を磁化させることで、表面に散布した強磁性体の磁粉(または蛍光磁粉)がキズ部分に吸着。これを観察することでキズの検出が可能になります。
日本電磁測器株式会社(NDK)では、「簡単」「確実」「安価」という3つのメリットを持つ磁粉探傷関連製品ラインナップをご用意して「安全と、品質管理における安心」をご提供いたします。

磁粉探傷検査の流れ

磁粉探傷検査の流れイメージ
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